偏鎢酸銨中的雜質分析方法

偏鎢酸銨（AMT）中的雜質分析對其品質控制至關重要，特別是在催化劑、電子材料等高純度應用領域。AMT 中的常見雜質包括鉬（Mo）、鐵（Fe）、鈉（Na）、鉀（K）、矽（Si）等金屬或非金屬元素。這些雜質可能來源於原材料、生產工藝或設備污染。

常見分析方法包括：

1. 電感耦合等離子體質譜（ICP-MS）：
o 可同時檢測多種痕量元素，靈敏度極高（可達 ppb 級）。
o 特別適用于高純 AMT 的痕量雜質分析。
o 例如：催化劑級 AMT 要求 Mo 含量低於 0.01%。

2. 電感耦合等離子體發射光譜（ICP-OES）：
o 適用於 ppm 級濃度的金屬雜質檢測。
o 可快速、精准地測定 Fe、Na、K 等元素含量。

3. 原子吸收光譜（AAS）：
o 可用於 Fe、Na 等特定元素的精確分析。
o 通過火焰或石墨爐原子化樣品，測量其在特徵波長處的光吸收情況。

4. X 射線螢光光譜（XRF）：
o 非破壞性檢測技術，適用於固體 AMT 樣品的常規雜質分析。
o 適合檢測主要和次要元素雜質。

5. 離子色譜（IC）：
o 用於分析水溶性陰離子雜質，如氯離子、硫酸根、硝酸根等。
o 具有高靈敏度和高選擇性，可精確監測溶解性污染物。

6. 熱重分析（TGA）：
o 通過加熱測量樣品品質變化，檢測揮發性雜質或有機殘留物。

7. 紫外-可見分光光度法（UV-Vis）：
o 可根據特定雜質的吸收光譜特性進行定量分析。